第20回 – 講義2・高速伝送評価サービスの紹介

日時：2024年02月28日（水） 14:30〜 （45分）
場所：オンライン 配信
講師：石橋 直哉 NTTデバイスクロステクノロジ株式会社（NXTEC）

システム開発プロセスにおいて、システム評価で問題発生した場合、その要因切り分け調査が必要となります。システム製造前に部品単体の性能確認を行うことで、切り分け調査を加速化できますが、部品単体の性能評価には、実使用条件に即した評価条件・判定基準の設定が課題になります。
本講演では、その課題解決に向けて評価で考慮すべきポイントと、BERT及びオシロスコープを用いた光・電気高速伝送タイムドメイン測定の事例をご紹介いたします。