X-degnerの特長

• 1.様々な劣化モデルに対応

  Cadence社のSpectreで使用されている劣化モデルAgemos、SpectreのURIやeldoのUDRMに組み込まれたMoDeCH DexaMOS（※１）が抽出可能です。

• 2.強力なViewer機能

  測定データの比較やデータの選択・編集、作成した劣化モデルの多角的な検証が可能です。

• 3.複数の劣化特性をターゲットとしたモデリングが可能

  複数のストレス条件(電圧、温度)やトランジスタサイズに対する、オン抵抗、電流能力、閾値電圧の劣化を対象とした抽出が可能です。

• 4.複数劣化モデルの融合

  DexaMOSではDAHC(Drain Avalanche Hot Carrier)、CHC(Channel Hot Carrier)双方の効果による劣化がある場合でも、劣化モデルを融合して抽出することが可能です。

• 5.AIアルゴリズムによる複雑で高度な信頼性モデル抽出

  AI抽出機能により、これまでは難しかった、同時に複数の劣化特性をターゲットとすることができ、複数のパラメータを一度に抽出することが可能です。

※１　DexaMOSはX-degnerに標準で組み込まれているモデルの総称です。

X-degnerによる劣化モデルパラメータ抽出イメージ

Fig. 3 メイン抽出画面

Fig. 4 実測とシミュレーションの劣化特性比較

Fig. 5 10年後の各ストレス電圧条件下でのOn抵抗劣化

X-degnerと信頼性シミュレーション

X-degnerを使ってモデルを抽出することにより、以下の信頼性シミューレションが可能です。

• 素子単体のストレスによる特性劣化を高精度にモデリングできます。上記Fig. 4は、実測(○記号)結果と、シミュレーション(*記号)結果をプロットしたグラフで、十分な精度でシミュレーションできることがわかります。
• 回路中の各素子の劣化ストレス量が確認できるので、どの素子にストレスが強くかかっているのかがわかり、特性劣化に影響するクリティカルな素子がわかります。
• 特性劣化の度合いを、電気特性波形で確認できます。上図のFig. 1にあるように指定したストレス印加時間後ごとに波形の変化を可視化する事ができます。
• 上図Fig. 2にある回路機能の劣化シミュレーションにより、回路機能の経年劣化量と寿命予測ができます。

基本仕様

Spectre版

Eldo版

関連情報

• X-degnerで作成したモデルで実施する信頼性シミュレーションについては、
  信頼性モデリングのページをご参照ください。
• X-degnerで使用する特性グラフの数値化は、自動数値化ツールRODEMが最適です。

• 劣化モデル以外のSPICEモデル自動作成は、X-tractorにお任せください。