Vol.4 半導体デバイスの測定サービスを本格的に開始いたしました

2006.11.20

"半導体デバイスのDC特性を測定する際に、デバイスが発振してしまいうまく測定することができないという経験はございませんか?"

また、明らかに発振しているわけではないのですが、発振する直前でDC特性は測定できているかのように見えているケースもあります。そのような場合、デバイス本来の特性が得られていないことになります。
従来はフェライトビーズなどを挿入して手探りの状態で発振を抑制することが一般的でした。
そのような手段は、必ずしもうまくいくわけではありません。
モーデック社では、長年の研究成果から発振しているもしくは発振気味のデバイスでもその発振を完全に抑制する技術を開発いたしました。
発振にお困りのエンジニアの方、是非モーデック社の測定サービスをご利用なさってみてください!

なお、モーデック社ではデバイスのDC特性以外に