コンサルティング
  • FAB PDK検証、改良支援
  • 高周波(ミリ波含む)素子の測定、評価、モデリング用On Wafer TEG設計の指導
  • CMOSモデリング用On Wafer TEG設計の指導
  • 高耐圧素子モデリング用On Wafer TEG設計の指導
  • ハイパワー素子モデリング用On Wafer TEG設計の指導
  • 1 / fノイズ測定、評価、モデリング用On Wafer TEG設計の指導
  • 1 / fノイズ測定、評価、モデリングに関する技術指導
  • 高周波ノイズ(NF)測定、評価に関する技術指導
  • BSIM3、BSIM4モデリング技術指導
  • BJTモデリング技術指導
  • 受動素子モデリング技術指導
  • PCM / WATデータ統計解析モデリング技術指導
  • Sパラメータ測定技術指導
  • TRLキャリブレーションキット作成技術指導
  • De-embedding技術指導
  • ACコンダクタンス法による自己発熱解析指導
  • RF測定環境構築技術指導
  • RFモデリング技術指導
  • RF回路検証技術指導
  • RF回路設計技術支援
  • シリコン基板結合解析支援
  • RFボード設計支援
  • RF-ICデザインキット作成支援
  • ディスクリート素子モデリング技術指導
  • 測定環境構築支援
  • SPICEへのモデル組み込み支援
  • TFTモデルの液晶シミュレータヘの組み込み
  • PDKへのモデル組み込み支援
  • モデリング環境構築支援
  • コンパクトモデル比較支援
  • シミュレーション環境構築支援
  • シミュレータによる差異検証支援
  • シミュレーション収束性改善解析支援
  • Verilog-Aモデル開発支援
  • マクロモデル開発支援
  • 高速デジタル用差動IBISモデル改良支援
  • トランジスタ特性解析支援
  • トランジスタ動作時の容量特性解析支援
  • プロセス評価支援
  • IC / LSI検証支援
  • DC / DCコンバータ回路検証支援
  • RF大ノイズ注入問題解決支援
  • PI / SI問題解決支援
  • EMI / EMC問題解決支援
  • ESD問題解決支援
  • 技術論文作成支援
  • 顧客ニーズに応じた各種技術セミナー
  • 顧客ニーズに応じた年間技術サポート
  • 顧客ニーズに応じた各種測定、モデリング。解析システムの開発など
受動素子測定 / モデリングサービス
  • IV、CV、高周波インピーダンス、ミリ波帯までのSパラメータ、1 / fノイズ、ストレス測定
  • 抵抗、コンデンサ、コイル、スパイラルインダクタ等モデリング
  • ミリ波帯までのパッドモデリング
  • ミリ波帯までのMOM、MIM CAPモデリング
  • ミリ波帯までの伝送線路、分岐、スタブ等モデリング
  • ポリ抵抗モデリング
  • コンタクタ、アダプタ、コネクタ等モデリング
  • 同軸ケーブルモデリング
  • RCフィルタモデリング
  • パッケージモデリング
  • 相互インダクタンスモデリング
  • インターコネクトモデリング
  • GNDインダクタンスモデリング
MOSFET、CMOS測定 / SPICEパラメータ抽出 / モデリング / 回路検証 / 統計解析サービス
  • BSIM6パラメータ抽出
  • 1 / fノイズ測定、モデリングサービス
  • 67GHz(最大110GHz)までのミリ波Sパラメータ測定
  • ばらつき用大量測定、統計解析
  • ミリ波CMOS用PDK検証
  • ミリ波 / 超高速デジタルCMOS用BSIM4モデリング
  • ミリ波 / 超高速デジタルCMOS用高調波、相互変調歪モデリング
  • ミリ波 / 超高速デジタルCMOS用受動素子モデリング
  • ミリ波CMOS用伝送線路モデリング
  • ミリ波 / 超高速デジタルCMOS用回路検証
  • ミリ波CMOS用コーナーモデル作成
  • CMOS PDK用モデリング
  • CMOS PDK用コーナーモデル作成
  • CMOS パラメータ・スキューイング
  • デプレッションMOSFETモデリング
  • メモリ用途MOSFETモデリング
  • スイッチング波形観測
  • ディスクリートMOSFETモデリング
  • 高速スイッチング用MOSFETモデリング
  • パワーMOSFETモデリング
  • SiC MOSFETモデリング
  • パラメータのアップデート / メンテナンス・サービス
  • BSIM3、BSIM4パラメータ抽出
  • グローバルビンニング
  • ビン分けモデリング
  • STI / WPEレイアウトストレスモデリング
  • BSIM-SOIパラメータ抽出
  • MOSCAP用BSIM3モデリング
  • シリコン基板、インターコネクトモデリング
  • CMOSプロセス寄生BJTモデリング
  • カスコード素子モデリング
  • リングOSC回路検証
  • カレントミラー回路検証
  • HiSIM2パラメータ抽出
  • HV-MOS(対称、非対称)用HiSIM-HVパラメータ抽出
  • LDMOS用HiSIM-HVパラメータ抽出
  • MV-MOS用BSIM3、BSIM4パラメータ抽出
  • HV-MOS(対称,非対称)用BSIM3、BSIM4パラメータ抽出
  • LDMOS用BSIM3、BSIM4パラメータ抽出
  • Spectre HV-MOS(対称、非対称)パラメータ抽出
IGBT測定 / モデリングサービス
  • IV、パルスIV、カーブトレーサ、CV、 高周波インピーダンス、スイッチング波形、1 / fノイズ測定
  • IGBTマクロモデリング
  • IGBTモジュール内蔵のFree Wheeling Diodeモデリング
  • IGBTコーナーモデル作成
MESFET、HEMT、JFET測定 / モデリングサービス
  • IV、パルスIV、CV、 高周波インピーダンス、Sパラメータ、大信号、NF、1 / fノイズ測定
  • GaN HEMT DC / Sパラメータモデリング
  • GaN HEMTロードプル、効率モデリング
  • エンハンスメント型HEMT / MESFETモデリング
  • 110GHzミリ波対応HEMT / MESFETモデリング
  • Angelov、Parker-Skellern、EEHEMT / EEFET、 Curtice、Statzパラメータ抽出
  • JFETモデリング
Diode測定 / パラメータ抽出 / モデリングサービス
  • IV、CV、リカバリー、高周波インピーダンス、Sパラメータ、1 / fノイズ測定
  • 接合ダイオードパラメータ抽出
  • PINダイオードモデリング
  • ツェナーダイオードモデリング
  • ショットキーダイオードモデリング
  • ファストリカバリーダイオードモデリング
  • SiCダイオードモデリング
  • バンドギャップ用ダイオードモデリング
  • Free Wheeling Diodeモデリング
  • LEDモデリング
BJT測定 / パラメータ抽出 / モデリングサービス
  • IV、CV、高周波インピーダンス、Sパラメータ、Ft、1 / fノイズ測定
  • Gummel-Poonパラメータ抽出
  • スケーラブルGummel-Poonモデリング
  • アドバンスドGummel-Poonパラメータ抽出
  • シリコンBJT用VBICパラメータ抽出
  • HBT用VBICパラメータ抽出
  • MEXTRAMパラメータ抽出
  • HiCUMパラメータ抽出
  • バンドギャップ用BJTモデリング
  • ラテラルPNPマクロモデリング
  • RF-BJTマクロモデリング
  • BJTコーナーモデル作成
IC 測定 / モデリングサービス
  • IC用各種測定
  • 高速デジタル用差動IBISモデル改良
  • LDOモデリング
  • オペアンプ / コンパレータモデリング
  • DC / DCコンバータモデリング
  • モーターコントロールドライバモデリング
  • 差動ドライバモデリング
  • LEDドライバモデリング
  • スイッチドライバモデリング
  • レシーバモデリング
  • フォトカプラモデリング
  • 各種コントロールドライバモデリング等