• FAB PDK検証、改良支援
  • 高周波(ミリ波含む)素子の測定、評価、モデリング用On Wafer TEG設計の指導
  • CMOSモデリング用On Wafer TEG設計の指導
  • 高耐圧素子モデリング用On Wafer TEG設計の指導
  • ハイパワー素子モデリング用On Wafer TEG設計の指導
  • 1 / fノイズ測定、評価、モデリング用On Wafer TEG設計の指導
  • 1 / fノイズ測定、評価、モデリングに関する技術指導
  • 高周波ノイズ(NF)測定、評価に関する技術指導
  • BSIM3、BSIM4モデリング技術指導
  • BJTモデリング技術指導
  • 受動素子モデリング技術指導
  • PCM / WATデータ統計解析モデリング技術指導
  • Sパラメータ測定技術指導
  • TRLキャリブレーションキット作成技術指導
  • De-embedding技術指導
  • ACコンダクタンス法による自己発熱解析指導
  • RF測定環境構築技術指導
  • RFモデリング技術指導
  • RF回路検証技術指導
  • RF回路設計技術支援
  • シリコン基板結合解析支援
  • RFボード設計支援
  • RF-ICデザインキット作成支援
  • ディスクリート素子モデリング技術指導
  • 測定環境構築支援
  • SPICEへのモデル組み込み支援
  • TFTモデルの液晶シミュレータヘの組み込み
  • PDKへのモデル組み込み支援
  • モデリング環境構築支援
  • コンパクトモデル比較支援
  • シミュレーション環境構築支援
  • シミュレータによる差異検証支援
  • シミュレーション収束性改善解析支援
  • Verilog-Aモデル開発支援
  • マクロモデル開発支援
  • 高速デジタル用差動IBISモデル改良支援
  • トランジスタ特性解析支援
  • トランジスタ動作時の容量特性解析支援
  • プロセス評価支援
  • IC / LSI検証支援
  • DC / DCコンバータ回路検証支援
  • RF大ノイズ注入問題解決支援
  • PI / SI問題解決支援
  • EMI / EMC問題解決支援
  • ESD問題解決支援
  • 技術論文作成支援
  • 顧客ニーズに応じた各種技術セミナー
  • 顧客ニーズに応じた年間技術サポート
  • 顧客ニーズに応じた各種測定、モデリング、解析システムの開発など