Vol.8　統計解析モデリングセミナーを実施

電気学会様向けDFMのための統計解析モデリングセミナーを実施いたしました！
2月23日に電気学会様のご招待で、弊社社長が”DFMのための統計解析モデリング”セミナーを実施いたしました。
概要といたしましては、以下のようになります。
ナノテクノロジーによるCMOSデバイスでは、回路シミュレータに使用するコンパクトモデリングが非常に困難となってきています。モデルそのものについては、HiSIM2に代表される微細化デバイス用モデルが開発され、実用化に向け準備がなされています。
また、そのモデルパラメータを抽出する技術については,弊社をはじめとする企業などによって開発がなされています。
しかし、実際に回路設計者がシミュレーションを行い、設計に本格的に役立てるためには、デバイス、回路のばらつきをシミュレートする必要があります。この統計解析モデリングは、デバイス、回路の微細化に伴って今までのような、モンテカルロシミュレーションにのみ依存する手法は実用的ではありません。
そこでセミナーでは、PCMテストデータを中心とした統計解析モデリングについて紹介いたしました。
さらに近年注目されてきた、RF－CMOSでの応用についても言及いたしました。
セミナーの中で、また、終了後に各企業の研究者、大学の先生方より非常に多くのご質問、コメントをいただき、予定では1時間のところ2時間に渡り講演させていただきました。