半導体デバイス/材料技術の国際会議でありますSSDM 2010が9月22日(水)～24日(金)の3日間にわたり、東京大学 本郷キャンパスにて開催されました。
弊社は採択されました論文、
『A Forward Body Bias Characterization for Low Voltage CMOS Circuits』
について、9月23日(木)にポスター発表を致しました。本論文の内容に関しましては、『モーデックNews』のVol.47でご紹介いたしましたが、当日はより詳細にこれまでの研究成果と今後の方向性をご説明させて頂き、大学の先生をはじめとして、多くの方々から高い評価を頂くことが出来ました。
弊社コーナーにお越し頂いた学会員の皆様には、心より感謝とお礼を申し上げます。
誠にありがとうございました。
今後も更なる技術とサービスの向上に努めて参りたいと思っておりますので、何卒宜しくお願い申し上げます。