現在、最先端CMOSプロセスは、ナノスケールの時代に到達しており、様々なアプリケーション向け製品の開発が行われています。ナノスケールの時代に効率のよい設計を行うためには、高精度シミュレーション、つまりは高精度のモデリングが必要になってきます。そのために必要不可欠なのがデバイスを正確に測定するということです。一言で測定と言いましても、以下のように測定する項目により注意すべき点が異なります。
- 1/fノイズ測定
1/fノイズ測定は、システムを購入しさえすれば高精度測定が出来るものではありません。測定環境、ケーブルの引き回し、測定器の配置、測定系の入出力インピーダンスの整合などなど、多くの要素を最適な状態に設定する必要がございます。モーデックでは、1999年のIEEE MTT-Sでも高く評価されました世界最高水準の1/fノイズ測定システムを更に改良し、高精度な1/f測定を実施致します。 - 高周波Sパラメータ測定
ベクトルネットワークアナライザーにてSパラメータを測定する際には、市販のCalキットだけではなく、実デバイスも評価してキャリブレーションが正常に行われているかを確認する必要がございます。また、測定したSパラメータは真のデバイス特性ではなく、寄生の容量、インダクタンス、抵抗成分を含んでおりますので、de-embedding処理を行う必要がございます。
モーデックでは、DCとSパラメータの測定系を同一にし、また同一タイミングで測定を行い、de-embedding処理後の測定結果の妥当性、再現性も確認しながら高精度の測定を実施致します。 - LDMOS及びSOIデバイス測定
LDMOS、SOIデバイスに共通の物理現象を示すものに自己発熱効果や寄生バイポーラ効果などがございます。モーデックでは、これら効果、またLDMOSの場合には加えて疑似飽和効果も含んだモデルを実現する測定を実施致します。更にLDMOSの測定時には、発振現象がしばしば発生致します。そこで、モーデックでは独自に発振防止回路を開発し、安定した状態で真のデバイス特性データを取得して抽出に使用しております。
この不況の中、弊社では少しでもお客様のお役に立てますよう、“測定格安キャンペーン”を実施することと致しました。もちろん、上記以外の測定にも対応しておりますし、少量測定から大量測定まで対応致します。測定の工数がない、正確な測定が出来ないといった問題をお持ちのお客様はこの機会に是非“測定格安キャンペーン”をご検討下さい。
★キャンペーン期間
2009.5.1～2009.12.31まで
★キャンペーン価格
測定数量にも依りますが、通常料金の1/2～1/5で承っております。