- FAB PDK検証、改良支援
- 高周波(ミリ波含む)素子の測定、評価、モデリング用On Wafer TEG設計の指導
- CMOSモデリング用On Wafer TEG設計の指導
- 高耐圧素子モデリング用On Wafer TEG設計の指導
- ハイパワー素子モデリング用On Wafer TEG設計の指導
- 1 / fノイズ測定、評価、モデリング用On Wafer TEG設計の指導
- 1 / fノイズ測定、評価、モデリングに関する技術指導
- 高周波ノイズ(NF)測定、評価に関する技術指導
- BSIM3、BSIM4モデリング技術指導
- BJTモデリング技術指導
- 受動素子モデリング技術指導
- PCM / WATデータ統計解析モデリング技術指導
- Sパラメータ測定技術指導
- TRLキャリブレーションキット作成技術指導
- De-embedding技術指導
- ACコンダクタンス法による自己発熱解析指導
- RF測定環境構築技術指導
- RFモデリング技術指導
- RF回路検証技術指導
- RF回路設計技術支援
- シリコン基板結合解析支援
- RFボード設計支援
- RF-ICデザインキット作成支援
- ディスクリート素子モデリング技術指導
- 測定環境構築支援
- SPICEへのモデル組み込み支援
- TFTモデルの液晶シミュレータヘの組み込み
- PDKへのモデル組み込み支援
- モデリング環境構築支援
- コンパクトモデル比較支援
- シミュレーション環境構築支援
- シミュレータによる差異検証支援
- シミュレーション収束性改善解析支援
- Verilog-Aモデル開発支援
- マクロモデル開発支援
- 高速デジタル用差動IBISモデル改良支援
- トランジスタ特性解析支援
- トランジスタ動作時の容量特性解析支援
- プロセス評価支援
- IC / LSI検証支援
- DC / DCコンバータ回路検証支援
- RF大ノイズ注入問題解決支援
- PI / SI問題解決支援
- EMI / EMC問題解決支援
- ESD問題解決支援
- 技術論文作成支援
- 顧客ニーズに応じた各種技術セミナー
- 顧客ニーズに応じた年間技術サポート
- 顧客ニーズに応じた各種測定、モデリング、解析システムの開発など
コンサルティング
2017.10.06