2011.02.25

”信頼性評価の測定にはMoDeCH-IDが最適です!!!”

信頼性評価といえば、素子にストレスを与えながらその特性の変化を長時間にわたって観測することが必要になります。このため測定器の占有時間が膨大となり、当然測定コスト増に直結します。

このような問題については、如何に効率よく測定を行うかがポイントになり、

・複数素子を並行して測定を行う
・稼働率が低い夜間を利用する
・使用していない機材を再利用する

等、できるだけ測定効率が向上するように工夫をすることが必要となります。

弊社MoDeCH-IDは、デバイスモデリング用の特性データを自動測定するツールとしてご好評いただいておりますが、測定全般どのような分野においても適用することが可能です。これは、お客様所有の測定環境にあわせて、自由にカストマイズできるという特長を持っているためであり、信頼性評価においても前述した測定効率向上のための工夫を最大限まで引き出すことができます。

また代表的な信頼性評価における測定環境は、次の通りです。

・セミオートプローバ
・半導体パラメータアナライザ
・スイッチングマトリックス
・ストレス印加用DC電源

上記測定環境に対応したMoDeCH-IDによる自動測定システムを構築することで、最も効率的に信頼性評価を実施できると確信いたします。もちろん信頼性評価に必要となるTEGのサポートもあわせて実施いたしますので、この機会に是非、MoDeCH-IDによる信頼性評価をご検討下さいませ。