事例紹介

ホーム > 事例紹介
当社のこれまでの実績をまとめました。

実績一覧

  • コンサルティング
    • [測定・全方位プローバ] [SPICEモデル・IBISモデル] [回路設計・ノイズ対策支援]

      FAB PDK検証、改良支援
      高周波(ミリ波含む)素子の測定、評価、モデリング用On Wafer TEG設計の指導
      CMOSモデリング用On Wafer TEG設計の指導
      高耐圧素子モデリング用On Wafer TEG設計の指導
      ハイパワー素子モデリング用On Wafer TEG設計の指導
      1 / fノイズ測定、評価、モデリング用On Wafer TEG設計の指導
      1 / fノイズ測定、評価、モデリングに関する技術指導
      高周波ノイズ(NF)測定、評価に関する技術指導
      BSIM3、BSIM4モデリング技術指導
      BJTモデリング技術指導
      受動素子モデリング技術指導
      PCM / WATデータ統計解析モデリング技術指導
      Sパラメータ測定技術指導
      TRLキャリブレーションキット作成技術指導
      De-embedding技術指導
      ACコンダクタンス法による自己発熱解析指導
      RF測定環境構築技術指導
      RFモデリング技術指導
      RF回路検証技術指導
      RF回路設計技術支援
      シリコン基板結合解析支援
      RFボード設計支援
      RF-ICデザインキット作成支援
      ディスクリート素子モデリング技術指導
      測定環境構築支援
      SPICEへのモデル組み込み支援
      TFTモデルの液晶シミュレータヘの組み込み
      PDKへのモデル組み込み支援
      モデリング環境構築支援
      コンパクトモデル比較支援
      シミュレーション環境構築支援
      シミュレータによる差異検証支援
      シミュレーション収束性改善解析支援
      Verilog-Aモデル開発支援
      マクロモデル開発支援
      高速デジタル用差動IBISモデル改良支援
      トランジスタ特性解析支援
      トランジスタ動作時の容量特性解析支援
      プロセス評価支援
      IC / LSI検証支援
      DC / DCコンバータ回路検証支援
      RF大ノイズ注入問題解決支援
      PI / SI問題解決支援
      EMI / EMC問題解決支援
      ESD問題解決支援
      技術論文作成支援
      顧客ニーズに応じた各種技術セミナー
      顧客ニーズに応じた年間技術サポート
      顧客ニーズに応じた各種測定、モデリング。解析システムの開発など
  • 受動素子 測定 / モデリングサービス
    • [測定・全方位プローバ] [SPICEモデル・IBISモデル]

      IV、CV、高周波インピーダンス、ミリ波帯までのSパラメータ、1 / fノイズ、ストレス測定
      抵抗、コンデンサ、コイル、スパイラルインダクタ等モデリング
      ミリ波帯までのパッドモデリング
      ミリ波帯までのMOM、MIM CAPモデリング
      ミリ波帯までの伝送線路、分岐、スタブ等モデリング
      ポリ抵抗モデリング
      コンタクタ、アダプタ、コネクタ等モデリング
      同軸ケーブルモデリング
      RCフィルタモデリング
      パッケージモデリング
      相互インダクタンスモデリング
      インターコネクトモデリング
      GNDインダクタンスモデリング
  • MOSFET、CMOS測定 / SPICEパラメータ抽出 / モデリング / 回路検証 / 統計解析サービス
    • [測定・全方位プローバ] [SPICEモデル・IBISモデル] [回路設計・ノイズ対策支援]

      BSIM6パラメータ抽出
      1 / fノイズ測定、モデリングサービス
      67GHz(最大110GHz)までのミリ波Sパラメータ測定
      ばらつき用大量測定、統計解析
      ミリ波CMOS用PDK検証
      ミリ波 / 超高速デジタルCMOS用BSIM4モデリング
      ミリ波 / 超高速デジタルCMOS用高調波、相互変調歪モデリング
      ミリ波 / 超高速デジタルCMOS用受動素子モデリング
      ミリ波CMOS用伝送線路モデリング
      ミリ波 / 超高速デジタルCMOS用回路検証
      ミリ波CMOS用コーナーモデル作成
      CMOS PDK用モデリング
      CMOS PDK用コーナーモデル作成
      CMOS パラメータ・スキューイング
      デプレッションMOSFETモデリング
      メモリ用途MOSFETモデリング
      スイッチング波形観測
      ディスクリートMOSFETモデリング
      高速スイッチング用MOSFETモデリング
      パワーMOSFETモデリング
      SiC MOSFETモデリング
      パラメータのアップデート / メンテナンス・サービス
      BSIM3、BSIM4パラメータ抽出
      グローバルビンニング
      ビン分けモデリング
      STI / WPEレイアウトストレスモデリング
      BSIM-SOIパラメータ抽出
      MOSCAP用BSIM3モデリング
      シリコン基板、インターコネクトモデリング
      CMOSプロセス寄生BJTモデリング
      カスコード素子モデリング
      リングOSC回路検証
      カレントミラー回路検証
      HiSIM2パラメータ抽出
      HV-MOS(対称、非対称)用HiSIM-HVパラメータ抽出
      LDMOS用HiSIM-HVパラメータ抽出
      MV-MOS用BSIM3、BSIM4パラメータ抽出
      HV-MOS(対称,非対称)用BSIM3、BSIM4パラメータ抽出
      LDMOS用BSIM3、BSIM4パラメータ抽出
      Spectre HV-MOS(対称、非対称)パラメータ抽出
  • IGBT測定 / モデリングサービス
    • [測定・全方位プローバ] [SPICEモデル・IBISモデル]

      IV、パルスIV、カーブトレーサ、CV、 高周波インピーダンス、スイッチング波形、1 / fノイズ測定
      IGBTマクロモデリング
      IGBTモジュール内蔵のFree Wheeling Diodeモデリング
      IGBTコーナーモデル作成
  • MESFET、HEMT、JFET測定 / モデリングサービス
    • [測定・全方位プローバ] [SPICEモデル・IBISモデル]

      IV、パルスIV、CV、 高周波インピーダンス、Sパラメータ、大信号、NF、1 / fノイズ測定
      GaN HEMT DC / Sパラメータモデリング
      GaN HEMTロードプル、効率モデリング
      エンハンスメント型HEMT / MESFETモデリング
      110GHzミリ波対応HEMT / MESFETモデリング
      Angelov、Parker-Skellern、EEHEMT / EEFET、 Curtice、Statzパラメータ抽出
      JFETモデリング
  • Diode測定 / パラメータ抽出 / モデリングサービス
    • [測定・全方位プローバ] [SPICEモデル・IBISモデル]

      IV、CV、リカバリー、高周波インピーダンス、Sパラメータ、1 / fノイズ測定
      接合ダイオードパラメータ抽出
      PINダイオードモデリング
      ツェナーダイオードモデリング
      ショットキーダイオードモデリング
      ファストリカバリーダイオードモデリング
      SiCダイオードモデリング
      バンドギャップ用ダイオードモデリング
      Free Wheeling Diodeモデリング
      LEDモデリング
  • BJT測定 / パラメータ抽出 / モデリングサービス
    • [測定・全方位プローバ] [SPICEモデル・IBISモデル]

      IV、CV、高周波インピーダンス、Sパラメータ、Ft、1 / fノイズ測定
      Gummel-Poonパラメータ抽出
      スケーラブルGummel-Poonモデリング
      アドバンスドGummel-Poonパラメータ抽出
      シリコンBJT用VBICパラメータ抽出
      HBT用VBICパラメータ抽出
      MEXTRAMパラメータ抽出
      HiCUMパラメータ抽出
      バンドギャップ用BJTモデリング
      ラテラルPNPマクロモデリング
      RF-BJTマクロモデリング
      BJTコーナーモデル作成
  • IC 測定 / モデリングサービス
    • [測定・全方位プローバ] [SPICEモデル・IBISモデル]

      IC用各種測定
      高速デジタル用差動IBISモデル改良
      LDOモデリング
      オペアンプ / コンパレータモデリング
      DC / DCコンバータモデリング
      モーターコントロールドライバモデリング
      差動ドライバモデリング
      LEDドライバモデリング
      スイッチドライバモデリング
      レシーバモデリング
      フォトカプラモデリング
      各種コントロールドライバモデリング等

 

[測定・全方位プローバ] [SPICEモデル・IBISモデル] [回路設計・ノイズ対策支援]

  • CONTACT